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IEEE Xplore: Registro al detalle

Biblioguía de la base de datos IEEE Xplore: contenido, acceso, búsquedas y funcionalidades

Detalle del registro

Una vez que pinchamos sobre el título de un registro para visualizarlo en detalle, podremos:

  1. Ver en destacado el título del documento,  y algunas métricas asociadas al mismo, como citas totales recibidas en IEEE Xplore, diferenciado por tipo de documento, patentes y revistas,  y descargas del texto completo.
  2. Acceder a documentos relacionados de temática similar, según IEEE
  3. Descargar el texto completo del documento, descarga de las referencias citadas en el documento, exportación de la referencia del documento, y otras opciones como envío por correo, imprimir, uso compartido y creación de alertas
  4. Abstract y datos bibliográficos e identificadores
  5. Secciones del documento
  6. Más opciones

A través del enlace  "Authors" accederemos a una breve mención o curriculum de los autores del trabajo seleccionado.

En el enlace "Figures" encontraremos los gráficos e imágenes asociadas al registro bibliográfico que estamos visualizando. Podemos optar por ver estos gráficos e imágenes con más detalle en "View Full Size Image" o en el cuerpo del artículo en  "View in Context "

Desde el enlace "References" podremos visualizar la bibliografía que ha utilizado el documento. También podremos acceder a la opción "Citation map", que proporciona una representación gráfica resumida de la relación que existe entre el documento con sus fuentes y con las citas recibidas.citantes.

Las referencias externas a lEEE Xplore son enlazables a través de CrossRef , si la publicación está suscrita por la BUVa accederemos al texto completo.

En la pestaña "Citations" encontraremos las citas recibidas de otras publicaciones. distingue entre:

​​​1.- Citas recibidas por documentos

  1. Citas realizadas por publicaciones IEEE
  2. Citas realizadas por otros documentos (fuente de datos, CrossRef)

2.-La opción Citation map proporciona una representación gráfica resumida de la relación que existe entre el documento con sus fuentes y con las citas recibidas.

3.- Citas recibidas por patentes

 

Desde la pestaña "Keywords" podremos visualizar los diferentes conceptos o palabras clave por los que ha sido indizado el documento, de acuerdo con el IEEE, el INSPEC (términos controlados y términos no controlados) y palabras clave asignadas por los autores. 

Todas estas palabras claves son enlaces, por lo que nos permiten realizar búsquedas enlazadas y relanzar nuestra búsqueda bajo las palabras clave que seleccionemos.

En la pestaña "Metrics" accederemos a datos y estadísticas relativas al acceso a texto completo  desde IEEE así como a datos relativos a las citas recibidas, tomadas de diversas fuentes.

En primer lugar, encontraremos datos relativos a las consultas del texto completo que ha recibido el documento  dentro de la propia base de datos IEEE . Se recogen cifras desde el año 2011 y su actualización es mensual.

Además, encontraremos los datos relativos a las citas recibidas, actualizados a tiempo real:

  • Citas recibidas según la plataforma CrossRef (remite a la pestaña “Citation”)
  • Citas recibidas y contadas por otras Bases de Datos (como Web of Science o Scopus, cuando recogen estos documentos)
  • Por último, cuando esta información esté disponible, podremos acceder también a datos de uso y acceso proporcionados por Almetrics, entendidas como métricas adicionales a nivel de artículo.
  • Citas recibidas según Google Scholar 

La pestaña "Media" incorporará documentos o archivos multimedia, en aquellos casos en los que existan.

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